測試應(yīng)用中心再添利器:國內(nèi)首臺尖端動態(tài)參數(shù)測試儀
2019/4/25 10:42:34|3491
2012年3月26日,測試應(yīng)用中心引進國內(nèi)首臺最高可測試2500伏IGBT、MOSFET、二極管、功率三極管等動態(tài)參數(shù)的尖端測試設(shè)備—ITC57300動態(tài)參數(shù)測試儀,進一步完善了測試應(yīng)用中心實驗室的測試能力。該設(shè)備由美國ITC公司設(shè)計生產(chǎn),是一款高集成度功率半導(dǎo)體分立器件動態(tài)參數(shù)測試儀,采用測試主機+功能測試頭+個性板的測試架構(gòu),最高測試電流可以達到400A,實現(xiàn)不同類型、同類型不同封裝、同類型同......