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芯派科技股份有限公司-測(cè)試能力
測(cè)試能力 Testing capability
  • 可靠性測(cè)試室
  • 元器件測(cè)試室
  • 應(yīng)用系統(tǒng)測(cè)試室
  • 失效分析測(cè)試室
  • 新能源測(cè)試
  • 可靠性
  • 元器件
  • 應(yīng)用系統(tǒng)
  • 失效分析
  • 新能源
  • 檢測(cè)項(xiàng)目:功率循環(huán)試驗(yàn)(PC)

    覆蓋產(chǎn)品:IGBT模塊

    檢測(cè)能力:ΔTj=100℃ 電壓電流最大1800A 12V

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):IEC 客戶自定義

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:高溫反偏試驗(yàn)(HTRB)

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR,第三代半導(dǎo)體器件等單管器件

    檢測(cè)能力:溫度最高150℃; 電壓最高2000V

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),國(guó)標(biāo),JEDEC,IEC,AEC,客戶自定義等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:高溫門(mén)極試驗(yàn)(HTGB)

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、SiC MOS等單管器件

    檢測(cè)能力:溫度最高150℃; 電壓最高2000V

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),國(guó)標(biāo),JEDEC,IEC,AEC,客戶自定義等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:高溫工作壽命試驗(yàn)(HTOL)

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR、IC、第三代半導(dǎo)體器件等單管器件

    檢測(cè)能力:溫度最高150℃ 電壓最高2000V

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),國(guó)標(biāo),JEDEC,IEC,AEC,客戶自定義等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:低溫工作壽命試驗(yàn)(LTOL)

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR、IC、第三代半導(dǎo)體器件等單管器件

    檢測(cè)能力:溫度最低-80℃ 電壓最高2000V

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),國(guó)標(biāo),JEDEC,IEC,AEC,客戶自定義等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)(HTSL)

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR、IC、IGBT模塊、第三代半導(dǎo)體器件等產(chǎn)品及其他電子產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:溫度最高150℃;

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),國(guó)標(biāo),JEDEC,IEC,AEC,客戶自定義等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)(LTSL)

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR、IC、IGBT模塊、第三代半導(dǎo)體器件等產(chǎn)品及其他電子產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:溫度最低-80℃

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),國(guó)標(biāo),JEDEC,IEC,AEC,客戶自定義等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:高溫高濕試驗(yàn)(THB)

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR、IC、IGBT模塊、第三代半導(dǎo)體器件等產(chǎn)品及其他電子產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:溫度最高180℃ 濕度范圍:10%~98%

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),國(guó)標(biāo),JEDEC,IEC,AEC,客戶自定義等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:高低溫循環(huán)試驗(yàn)(TC)

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、IGBT、IDIODE、BJT、SCR、IC、IGBT模塊、第三代半導(dǎo)體器件等產(chǎn)品及其他電子產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:溫度范圍:-80℃~220℃

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),國(guó)標(biāo),JEDEC,IEC,AEC,客戶自定義等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:間歇壽命試驗(yàn)(IOL)功率循環(huán)試驗(yàn)(PC)

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、DIODE、BJT、IGBT及第三代半導(dǎo)體器件等單管器件

    檢測(cè)能力:ΔTj≧100℃ 電壓電流最大48V,10A

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),國(guó)標(biāo),JEDEC,IEC,AEC,客戶自定義等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:穩(wěn)態(tài)功率試驗(yàn)(SSOL)

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、DIODE、BJT、IGBT及第三代半導(dǎo)體器件等單管器件

    檢測(cè)能力:ΔTj≧100℃ 電壓電流最大48V,10A

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),國(guó)標(biāo),JEDEC,IEC,AEC,客戶自定義等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:高加速應(yīng)力試驗(yàn)(HAST)

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、DIODE、BJT、IGBT及第三代半導(dǎo)體器件等產(chǎn)品及其他電子產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:溫度130℃/110℃ 濕度85%

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),國(guó)標(biāo),JEDEC,IEC,AEC,客戶自定義等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:*無(wú)偏壓的高加速應(yīng)力試驗(yàn)(UHAST)

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、DIODE、BJT、IGBT及第三代半導(dǎo)體器件等產(chǎn)品及其他電子產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:溫度130℃ 濕度85%

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),國(guó)標(biāo),JEDEC,IEC,AEC,客戶自定義等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:高溫蒸煮試驗(yàn)(PCT)

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、DIODE、BJT、IGBT及第三代半導(dǎo)體器件等產(chǎn)品及其他電子產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:溫度121℃ 濕度100%

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),國(guó)標(biāo),JEDEC,IEC,AEC,客戶自定義等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:預(yù)處理試驗(yàn)(Pre-con)

    覆蓋產(chǎn)品:所有SMD類(lèi)型器件

    檢測(cè)能力:設(shè)備滿足各個(gè)等級(jí)的試驗(yàn)要求

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),國(guó)標(biāo),JEDEC,IEC,AEC,客戶自定義等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:潮氣敏感度等級(jí)試驗(yàn)(MSL)

    覆蓋產(chǎn)品:所有SMD類(lèi)型器件

    檢測(cè)能力:設(shè)備滿足各個(gè)等級(jí)的試驗(yàn)要求

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),國(guó)標(biāo),JEDEC,IEC,AEC,客戶自定義等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:*可焊性試驗(yàn)(Solderability)

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR、IC、第三代半導(dǎo)體器件等單管器件

    檢測(cè)能力:有鉛、無(wú)鉛均可進(jìn)行

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),國(guó)標(biāo),JEDEC,IEC,AEC,客戶自定義等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:直流參數(shù)

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、IGBT、DIODE等模塊產(chǎn)品;

    檢測(cè)能力:檢測(cè)最大電壓:7500V 檢測(cè)最大電流:6000A

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):國(guó)標(biāo),IEC

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:雪崩能量

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、IGBT、DIODE,第三代半導(dǎo)體器件等單管器件

    檢測(cè)能力:檢測(cè)最大電壓:2500V 檢測(cè)最大電流:200A

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo)

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:柵極電阻

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、IGBT及第三代半導(dǎo)體器件

    檢測(cè)能力:檢測(cè)阻抗:0.1Ω~50Ω

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):JEDEC

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:開(kāi)關(guān)時(shí)間

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、IGBT、DIODE及第三代半導(dǎo)體單管器件;

    檢測(cè)能力:檢測(cè)最大電壓:1200V 檢測(cè)最大電流:200A

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),國(guó)標(biāo),IEC等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:開(kāi)關(guān)時(shí)間

    覆蓋產(chǎn)品:IGBT等模塊產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:檢測(cè)最大電壓:2700V 檢測(cè)最大電流:4000A

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):國(guó)標(biāo),IEC

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:反向恢復(fù)

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、IGBT、DIODE及第三代半導(dǎo)體器件等單管器件

    檢測(cè)能力:檢測(cè)最大電壓:1200V 檢測(cè)最大電流:200A

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),國(guó)標(biāo),IEC等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:反向恢復(fù)

    覆蓋產(chǎn)品:IGBT等模塊產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:檢測(cè)最大電壓:2700V 檢測(cè)最大電流:4000A

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):國(guó)標(biāo),IEC

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:柵極電荷

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、IGBT、DIODE及第三代半導(dǎo)體器件等單管器件

    檢測(cè)能力:檢測(cè)最大電壓:1200V 檢測(cè)最大電流:200A

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),國(guó)標(biāo),IEC等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:柵極電荷

    覆蓋產(chǎn)品:IGBT等模塊產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:檢測(cè)最大電壓:2700V 檢測(cè)最大電流:4000A

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):國(guó)標(biāo),IEC

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:短路耐量能力

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、IGBT、DIODE及第三代半導(dǎo)體器件等單管器件

    檢測(cè)能力:檢測(cè)最大電壓:1200V 檢測(cè)最大電流:1000A

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),國(guó)標(biāo),IEC等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:短路耐量能力

    覆蓋產(chǎn)品:IGBT等模塊產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:檢測(cè)最大電壓:2700V 檢測(cè)最大電流:10000A

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):國(guó)標(biāo),IEC

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:結(jié)電容

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、IGBT及第三代半導(dǎo)體器件等單管器件

    檢測(cè)能力:檢測(cè)最大電壓:3000V

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):IEC

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:參數(shù)曲線掃描

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR,第三代半導(dǎo)體器件等單管器件的I-V、C-V曲線

    檢測(cè)能力:檢測(cè)最大電壓:3000V 檢測(cè)最大電流:1500A 溫度:-70°C~180°C

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),IEC等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:熱阻性能

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR,第三代半導(dǎo)體器件等單管產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:最大功率:250W

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),JEDEC

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:熱阻性能

    覆蓋產(chǎn)品:IGBT等模塊產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:最大功率:4000W

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),JEDEC

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:ESD能力

    覆蓋產(chǎn)品:MOSFET、IGBT、IC等產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:HBM最大電壓:8000V;MM最大電壓:800V

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),ANSI,JEDEC等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:*正向浪涌能力

    覆蓋產(chǎn)品:DIODE(Si/SiC)、整流橋

    檢測(cè)能力:檢測(cè)最大電流:800A

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):美軍標(biāo),國(guó)標(biāo)

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:電氣參數(shù)

    覆蓋產(chǎn)品:開(kāi)關(guān)電源(例如低壓AC/DC電源,低壓DC/DC電源,直流充電樁電源模塊等)、電機(jī)控制板。

    檢測(cè)能力:低壓AC/DC電源:?jiǎn)蜗嘧畲筝斎腚妷?功率為300V/3KVA;最大輸出電壓/功率:80V/1000W; 低壓DC/DC電源:最大輸入電壓/功率為80V/1.2KW;最大輸出電壓/功率:80V/1000W; 直流充電樁電源模塊:三相最大輸入電壓/功率為500V/30KVA;最大輸出電壓/功率:700V/30KW; 電機(jī)控制板:直流輸入電壓/功率100V/5KW

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):國(guó)標(biāo),IEC,客戶要求等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:*保護(hù)功能測(cè)試

    覆蓋產(chǎn)品:開(kāi)關(guān)電源(例如低壓AC/DC電源,低壓DC/DC電源,直流充電樁電源模塊等)、電機(jī)控制板。

    檢測(cè)能力:低壓AC/DC電源:?jiǎn)蜗嘧畲筝斎腚妷?功率為300V/3KVA;最大輸出電壓/功率:80V/1000W; 低壓DC/DC電源:最大輸入電壓/功率為80V/1.2KW;最大輸出電壓/功率:80V/1000W; 直流充電樁電源模塊:三相最大輸入電壓/功率為500V/30KVA;最大輸出電壓/功率:700V/30KW; 電機(jī)控制板:直流輸入電壓/功率100V/5KW

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):國(guó)標(biāo),IEC,客戶要求等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:*元器件應(yīng)力測(cè)試

    覆蓋產(chǎn)品:開(kāi)關(guān)電源(例如低壓AC/DC電源,低壓DC/DC電源,直流充電樁電源模塊等)、電機(jī)控制板、鋰電保護(hù)板。

    檢測(cè)能力:最大峰值電壓:1.5KV; 最大有效值/峰值電流:30A/50A; 最高溫度:260°C

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):元器件規(guī)格,客戶要求等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:電氣/抗電強(qiáng)度測(cè)試

    覆蓋產(chǎn)品:電子電氣產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:交流耐壓范圍:(0~5)KV/40mA; 直流耐壓范圍:(0~6)KV/9999uA

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):國(guó)標(biāo),IEC,客戶要求等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:絕緣電阻測(cè)試

    覆蓋產(chǎn)品:電子電氣產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:(100~1K)Vdc/9999MΩ

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):國(guó)標(biāo),IEC,客戶要求等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:接地電阻測(cè)試

    覆蓋產(chǎn)品:電子電氣產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:30A/600mΩ

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):國(guó)標(biāo),IEC,客戶要求等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:*低溫測(cè)試

    覆蓋產(chǎn)品:電子電氣產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:最低溫度:-70℃

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):國(guó)標(biāo),IEC,客戶要求等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:*高溫測(cè)試

    覆蓋產(chǎn)品:電子電氣產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:最高溫度:~180℃

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):國(guó)標(biāo),IEC,客戶要求等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:*高加速壽命/應(yīng)力測(cè)試

    覆蓋產(chǎn)品:電子電氣產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:溫度范圍:(-100 ~ +200)°C; 溫度上升速率:平均(70°~100°)C/m; 加速: (5 – 60)gRMS (空臺(tái))

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):國(guó)標(biāo),IEC,客戶要求等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:*靜電放電抗擾度測(cè)試

    覆蓋產(chǎn)品:電子電氣產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:接觸靜電放電電壓范圍:(±2~±8)KV 空氣靜電放電電壓范圍:(±2~±25)KV

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):國(guó)標(biāo),IEC,客戶要求等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:雷擊浪涌抗擾度測(cè)試

    覆蓋產(chǎn)品:電子電氣產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:1.2/50us綜合波的開(kāi)路電壓范圍:(0.25~10)KV; 10/700us通訊波的開(kāi)路電壓范圍:(0~6)KV; 輸出阻抗:1.2/50us綜合波2Ω、12Ω和500Ω;10/700us通訊波15Ω和40Ω

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):國(guó)標(biāo),IEC,客戶要求等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:電源端子騷擾電壓/傳導(dǎo)測(cè)試

    覆蓋產(chǎn)品:電子電氣產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:9KHz~30MHz

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):國(guó)標(biāo),IEC,客戶要求等

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:*開(kāi)短路檢測(cè)

    覆蓋產(chǎn)品:IC

    檢測(cè)能力:滿足128pin及以下引腳IC的open/short測(cè)試、曲線跟蹤分析、漏電流測(cè)試;最大電壓7V,電壓精度1mV;最大電流500mA,電流精度10nA;

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):客戶要求

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:*漏電檢測(cè)

    覆蓋產(chǎn)品:IC,分立器件,模塊等產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:具有EMMI(微光)和TIVA(激光誘導(dǎo))兩種偵測(cè)方式;加電方式A:電壓20mV-200V,電流10nA-1A,電流精度10fA;加電方式B:最大電壓3000V,最大電流5A。

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):客戶要求

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:*產(chǎn)品外觀或形貌確認(rèn)

    覆蓋產(chǎn)品:IC,分立器件,模塊等產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:立體成像:最大45倍; 金相成像:最大1000倍;數(shù)碼成像:最大6000倍;

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):客戶要求

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:*尺寸測(cè)量

    覆蓋產(chǎn)品:IC,分立器件,模塊等產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:立體成像:最大45倍; 金相成像:最大1000倍;數(shù)碼成像:最大6000倍;

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):客戶要求

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:超聲波檢測(cè)(SAT)

    覆蓋產(chǎn)品:IC,分立器件,模塊等產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:具有分層面積百分比計(jì)算,缺陷尺寸標(biāo)識(shí),厚度與距離測(cè)量等功能??蛇M(jìn)行A-scan(點(diǎn)掃描)、B-scan(縱向掃描)、C-scan(橫向掃描)、Through-scan(透射掃描)。

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):國(guó)軍標(biāo)

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:X-ray檢測(cè)

    覆蓋產(chǎn)品:IC,分立器件,模塊等產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:最高分辨率0.5um。具有空洞面積百分比計(jì)算,缺陷尺寸標(biāo)識(shí),厚度與距離測(cè)量等功能。可進(jìn)行二維掃描、三維CT掃描。

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):國(guó)軍標(biāo)

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:推拉力檢測(cè)

    覆蓋產(chǎn)品:IC,分立器件,模塊等產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:支持WP100和WP2.5KG二款拉力測(cè)試頭,測(cè)試范圍0-2.5Kg;支持BS250、BS5KG和DS100KG三款推力測(cè)試頭,測(cè)試范圍0-100Kg,推刀接受面寬0-8891um。

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):國(guó)軍標(biāo)

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:*有害物質(zhì)檢測(cè)

    覆蓋產(chǎn)品:IC,分立器件,模塊等產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:支持鉛(Pb)、鎘(Cd)、汞(Hg)、六價(jià)鉻(Cr6+)、多溴聯(lián)苯(PBB)和多溴二苯醚(PBDE),以及鹵素等其他化學(xué)元素的檢測(cè)。主要元素Pb/Cd/Hg/Cr/Br最低檢測(cè)限可達(dá)2ppm。

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):IEC

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:*樣品開(kāi)封

    覆蓋產(chǎn)品:IC,分立器件,模塊等產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:激光開(kāi)封、化學(xué)開(kāi)封、樣品剝層。

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):客戶要求

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:*剖面分析

    覆蓋產(chǎn)品:IC,分立器件,模塊等產(chǎn)品

    檢測(cè)能力:金相樣品制備、樣品觀察、樣品染色。

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):客戶要求

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:車(chē)載電源測(cè)試系統(tǒng)

    覆蓋產(chǎn)品:車(chē)載DCDC、OBC

    檢測(cè)能力: 直流電源功率:15kW
    — 電壓范圍:0~750VDC
    — 電流范圍:0~25A
    直流負(fù)載功率:6kW
    — 最大電壓:150V
    — 最大電流:600A

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):GB/T 24347-2009

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:磁粉測(cè)功機(jī)

    覆蓋產(chǎn)品:扭扭車(chē)、平衡車(chē)、電動(dòng)二輪車(chē)、電動(dòng)三輪車(chē)

    檢測(cè)能力: 直流電源功率:5kW
    — 電壓范圍:0~100VDC
    — 電流范圍:0~50A
    直流負(fù)載功率:5kW
    — 最大扭矩:200N.m
    — 最大轉(zhuǎn)速:1000r/min

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn): GB/T 5171-2002、QC/T 792-2007

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:輔助驅(qū)動(dòng)器試驗(yàn)臺(tái)架

    覆蓋產(chǎn)品:1.5kW、2.2kW、3.7kW、5.5kW、7.5kW的輔助驅(qū)動(dòng)器

    檢測(cè)能力: 電源功率:15kW
    — 電壓范圍:0~1000VDC
    — 電流范圍:0~15A
    磁粉制動(dòng)器功率:10kW
    — 最大扭矩:100N.m
    — 最高轉(zhuǎn)速:2000r/min

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn): GB/T 18488.1-2015、GB/T 18488.2-2015、GB/T 29307-2012

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:電機(jī)對(duì)拖試驗(yàn)臺(tái)架

    覆蓋產(chǎn)品:主電機(jī)驅(qū)動(dòng)器

    檢測(cè)能力: 電源功率:100kW
    — 電壓范圍:50~750VDC
    — 電流范圍:0~200A
    電機(jī)功率:0~120kW
    — 最大扭矩:1000N.m
    — 最高轉(zhuǎn)速:12000rpm

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn): GB/T 18488.1-2015、GB/T 18488.2-2015、GB/T 29307-2012

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:電機(jī)對(duì)拖試驗(yàn)臺(tái)架

    覆蓋產(chǎn)品:主電機(jī)驅(qū)動(dòng)器

    檢測(cè)能力: — 電源功率:250kW
    — 電壓范圍:24~800VDC
    — 電流范圍:-625~+625A
    — 電機(jī)功率:250kW
    — 額定扭矩:510N.m
    — 最高轉(zhuǎn)速:15002r/min

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn): GB/T 18488.1-2015、GB/T 18488.2-2015、GB/T 29307-2012

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:IP防水試驗(yàn)

    覆蓋產(chǎn)品:電工電子產(chǎn)品

    檢測(cè)能力: IPX7、X8侵水試驗(yàn)裝置:
    高度:1200mm
    寬度:1000mm
    長(zhǎng)度:800mm
    承重:50Kg
    壓力范圍:1米水深壓力

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn): GB/T 4208-2017、IEC 60529:2013

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:復(fù)合鹽霧試驗(yàn)

    覆蓋產(chǎn)品:電工電子產(chǎn)品

    檢測(cè)能力: 內(nèi)箱尺寸:1m3
    溫度范圍:+20~+70℃
    鹽霧沉降量:1~2ml/80cm2·h

    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn): GJB 150.11A-2009、GB/T 2423.17-2008、GB/T 2423.18-2012、GB/T 10125-2012